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    手机可靠性测试之低温试验介绍

    更新时间: 2017-06-29 点击次数: 2072次

                                               手机可靠性测试之低温试验介绍
      YD/T 1539-2006 移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法中讲解了移动通信手持机对低温环境的适应能力与测试方法。本标准主要讲解了移动手机低温存储和低温工作两种试验方法。
        一、低温存储
        移动通信手持机在关机状态下经(-40±3)℃低温存储16h,在正常大气压条件下恢复后,射频性能、功能、外观及装配应符合相关标准的要求。试验方法如下 :
        1.试验方法按GB/T 2423.1中相关规定进行。
        2.条件试验:试验样品按正常包装状态放入低温试验箱。启动低温箱,按平均值不大于1℃/min的变化速度使箱内温度逐渐降低到-40℃,在试验样品温度稳定后,持续时间16h。
        3.条件试验结束后,将试验样品放置在标准试验条件下2h,然后进行射频性能、功能、外观及装配检测。在放置过程中,为了防止造成积水,允许对试验样品进行吹风。
        二、低温工作
        移动通信手持机在开机状态下经(-10±3)℃低温试验2h后,射频性能应符合相关标准的要求。试验方法:
        1.试验方法按GB/T 2423.1中相关规定进行。
        2.条件试验:试验样品装上配套的电池、不开机、不包装放入低温试验箱。启动低温箱,按平均值为不大于1℃/min的变化速度使箱内温度逐渐降低到-10℃,保持此温度直至试验样品达到温度稳定,然后试验样品开始开机工作。
        3.工作2h后,在低温试验箱中对样品进行射频性能检测。

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